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质检报告

辐射抗扰度测试技术服务

  1 射频电磁场辐射抗扰度(RS)试验

  目的与应用场合

  1.1 辐射抗扰度(RS)概述

  本标准主要介绍国际标准IEC:2006,对应国家标准GB/T17626.3:2006《电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度》的试验方法。

  1.2 辐射抗扰度试验目的和应用场合

  本标准所涉及的主要骚扰源是来自80MHz~2000MHz以上频率范围内n射频辐射源产生的电磁场。比如电台、电视台、固定或移动式无线电发射台以及各种工业辐射源产生的电磁场(目前该标准的上限频率已经提高到6000MHz,这与目前使用的无线通讯设备的频率有关,很多无线通讯设备使用2.4GHz或者5.6GHz频率)。在该电磁场中运行的电气、电子设备会受到该电磁场的作用,从而影响设备的正常运行。所以,本标准的目的主要是建立一个评估射频电磁场辐射抗扰度性能的公共参考,为有关产品的技术委员会或用户和制造商提供一个基本参考。

  2 射频电磁场辐射抗扰度(RS)试验常见术语

  2.1电波暗室

  安装吸波材料用以降低内表面电波反射的屏蔽室

  2.2半电波暗室

  除地面安装反射接地平板外,其余内表面全部安装吸波材料的屏蔽室。

  2.3天线

  将射频信号源功率发射到空间或者接收空间电磁能量并转化为电信号的装置。

  2.4远场

  由天线发生的功率密度近似地随距离的平方呈反比关系的电磁场区域。

  2.5场强

  场强用于远场测量,测量可以是电场分量或磁场分量,可以V/m,A/m或W/m2表示。

  2.6极化

  辐射电磁场电场向量的方向。

  2.7扫描

  连续或步进扫过一段频率范围。

  3 射频电磁场辐射抗扰度(RS)试验等级及选择

  射频电磁场辐射抗扰度(RS)试验等级

  频率范围80MHz~1000MHz

  

  辐射抗扰度试验等级

  

  辐射抗扰度试验场强(V/m,场强未调制)

  

  1

  2

  3

  X

  

  1

  3

  10

  

  特定

  

  1)X是一个开放等级,可在产品规范中规定

  

  保护抵抗数字无线射频辐射的试验等级。

  射频电磁场辐射抗扰度(RS)试验等级

  频率范围800MHz~960MHz以及1400MHz~2000MHz

  

  辐射抗扰度试验等级

  

  试验场强(V/m,场强未调制)

  

  1

  2

  3

  4

  X

  

  1

  3

  10

  30

  

  特定

  

  1)X是一个开放等级,可在产品规范中规定

  

  ? 1类:低电磁辐射环境。位于1km以外的地方广播台/无线电电台/电视台和低功率的发射机/接收机所发射的电平为典型的低电平。

  ? 2类:中等电磁辐射环境。使用低功率便携式发射接收机(典型额定值小于1W),但限定在设备附近使用,是一种典型的商业环境。

  ? 3类:严酷电磁发射环境。便携式发射接收机(典型额定值2W或更大),可接近设备使用,但距离小于1m。设备附近有大功率广播发射机和工、科、医设备,是一种典型的工业环境。

  ? ×类:×是由协商或产品规范和产品标准规定的开放等级。

  4射频电磁场辐射抗扰度(RS)试验设备

  4.1信号发生器

  能覆盖标准中所规定的频段范围,具备幅度和调制功能,能手动或自动扫描,扫描点的驻留时间以及测试的频率-步长可以编程控制。

  具备幅度调制功能(内调制或外调制),调制度80%±5%,调制频率为1kHz±10%的正弦波信号发生器输出阻抗为50Ω信号发生器任何杂散谱线应至少比载波电平低15dB

  4.2功率放大器

  能够放大未调制和已调制的射频信号,给天线提供所需要的场强。能覆盖标准中所规定的频段范围。放大器产生的谐波和失真电平比载波电平至少低15dB

  4.3场强辐射装置

  能够覆盖标准所规定的频带范围

  发射天线,在80M Hz~1000MHz频带内可采用一个全频段的复合天线或者采用组合天线(双锥天线和对数周期天线)。1000MHz以上频带内可采用喇叭天线。

  TEM Cell或GTEM Cell

  4.4场强监视系统

  测量试验中天线在被测设备上产生的电磁场的场强大小具备各相同相性,测量范围满足试验要求能覆盖标准所规定的频率范围

  通过监测试验中场强探头所测量的被测设备上产生的电磁场的场强大小来调节射频信号发生器送到功率放大器的信号幅度,使被测设备上的电磁场大小维持在标准规定的范围

  4.5功率监视系统

  能覆盖标准所规定的频率范围

  包括功率计和双通道定向耦合器

  通过功率监测系统实时测量功率放大器的状态,同时监测入射功率和反射功率以满足使被测设备上的场强的要求。

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