AEC-Q104规范中,共分为A-H八大系列。其中,一大原则,在于MCM上使用的所有组件,包括电阻电容电感等被动组件、二极管离散组件、以及IC本身,在组合前若有通过AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200,MCM产品只需进行AEC-Q104H内仅7项的测试,包括4项可靠性测试:TCT(温度循环)、Drop(落下)、LowTemperature Storage Life(LTSL)、Start Up &Temperature Steps(STEP);以及3项失效类检验:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、Destructive Physical(DPA);若MCM上的组件未先通过AEC-Q100、AEC-Q101与AEC-Q200,那必须从AEC-Q104的A-H八大测项共49项目中,依据产品应用,决定验证项目,验证项目会变得比较多。
考虑MCM内部组件组成的复杂性,AEC-Q104在ESD测试项目上,其中人体放电模式(Human Body Model,HBM)的*低要求规格,由AEC-Q100定义的2KV,下调至1KV; 组件充电模式(Charged-DeviceModel,CDM),在AEC-Q100中,Corner Pin是750V,其他为500V,而在AEC-Q104上,则无论Pin Out位置,统一改为500V。
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